ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001

Обозначение

Заглавие на русском языке

Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем

Заглавие на английском языке

Semiconductor devices integrated circuits. Part 11. Section 1. Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits

Дата введения в действие

01.07.2002

ОКС

31.200

Код ОКП

633000

Код КГС

Э02

Аннотация (область применения)

Настоящий стандарт устанавливает испытания, которые проводят с целью проверки внутренних материалов, изготовления и сборки интегральных схем на соответствие требованиям применяемых технических условий на изделия конкретных типов

Ключевые слова

контроль; дефекты; критерии; пассивация; металлизация; диффузия; соединения

Вид стандарта

4 - Стандарты на методы контроля

Аутентичный текст с IEC

IEC 60748-11-1(1992)

Управление Ростехрегулирования

530 - Отдел стандартизации и сертификации информационных технологий, продукции электротехники и приборостроения

Количество страниц (оригинала)

Статус

Действует

Код цены