ГОСТ Р 8.698-2010

Обозначение

ГОСТ Р 8.698-2010

Заглавие на русском языке

Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра

Заглавие на английском языке

State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer

Дата введения в действие

01.09.2010

ОКС

17.040.01

Код КГС

Т86.1

Аннотация (область применения)

Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра: - максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм. Настоящий стандарт распространяется на: - материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды; - многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках

Ключевые слова

наночастицы; моно- и полидисперсные системы наночастиц; электронный радиус инерции; тонкие многослойные пленки; период повторения; рентгеновский малоугловой дифрактометр; методика выполнения измерений

Термины и определения

Раздел стандарта

Вид стандарта

4 - Стандарты на методы контроля

Дескрипторы (английский язык)

state system, ensuring, uniformity, measurements, dimensional parameters, nanoparticles, thin films, small angle, measurement, X-rays, scattering, diffractometer

Нормативные ссылки на: ГОСТ

Управление Ростехрегулирования

2 - Управление метрологии

Количество страниц (оригинала)

40

Организация - Разработчик

Открытое акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума»; Федеральное государственное учреждение «Российский научный центр «Курчатовский институт»; Государственное учреждение Российской академии наук «Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова»; Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Московский физико-технический институт (государственный университет)»

Статус

Действует

Код цены

4