ГОСТ Р 8.696-2010

Обозначение

ГОСТ Р 8.696-2010

Заглавие на русском языке

Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра

Заглавие на английском языке

State system for ensuring the uniformity of measurements. Interplanar spacings in crystals and the intensity distribution in diffraction patterns. Method for measurement by means of an electron diffractometer

Дата введения в действие

01.09.2010

ОКС

17.040.01

Код КГС

Т86.1

Аннотация (область применения)

Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции пучка электронов на кристаллах с помощью электронного дифрактометра. Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 20,00 нм и распределения токовых интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных от кристаллов в диапазоне от 10 в ст. минус14 до 10 в ст. минус 6 А. Настоящий стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки кристалла и индекса Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния

Ключевые слова

нанокристаллы; тонкие пленки; межплоскостные расстояния в кристаллах; интенсивность токовых рефлексов; электронный дифрактометр; методика выполнения измерений

Термины и определения

Раздел стандарта

Вид стандарта

1 - Основополагающие стандарты

Дескрипторы (английский язык)

state system, ensuring, uniformity, measurements, interplanar spacings, crystals, intensity, distributions, diffraction patterns, method, measurement, means, electron diffractometer

Нормативные ссылки на: ГОСТ

Управление Ростехрегулирования

2 - Управление метрологии

Количество страниц (оригинала)

16

Организация - Разработчик

Открытое акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума»; Федеральное государственное учреждение «Российский научный центр «Курчатовский институт»; Государственное учреждение Российской академии наук «Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова»; Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Московский физико-технический институт (государственный университет)»

Статус

Действует

Код цены

2