ГОСТ Р 59743.2-2022

Обозначение

ГОСТ Р 59743.2-2022

Заглавие на русском языке

Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2. Методы измерений аберраций волнового фронта

Заглавие на английском языке

Optics and photonics. Microlens array. Part 2. Test methods for wavefront aberrations

Дата введения в действие

01.03.2023

ОКС

31.260

Аннотация (область применения)

Настоящий стандарт распространяется на матрицы микролинз с линзами, образованными внутри или на одной, или более поверхностях общей подложки, и устанавливает методы измерений аберраций волнового фронта матриц микролинз

Ключевые слова

оптика и фотоника, матрица микролинз, методы измерений аберраций волнового фронта

Термины и определения

Раздел стандарта

Вид стандарта

3 - Стандарты на продукцию (услуги)

Содержит требования: ISO

ISO 14880-2:2006

Нормативные ссылки на: ГОСТ

Управление Ростехрегулирования

1 - Управление технического регулирования и стандартизации

Количество страниц (оригинала)

28

Организация - Разработчик

Федеральное государственное унитарное предприятие «Научно-исследовательский институт физической оптики, оптики лазеров и информационных оптических систем Всероссийского научного центра «Государственный оптический институт им. С.И. Вавилова» (ФГУП «НИИФООЛИОС ВНЦ «ГОИ им. С.И. Вавилова») и Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Национальный исследовательский Университет ИТМО» (Университет ИТМО)

Статус

Действует

Код цены

3