ГОСТ Р 57394-2017

Обозначение

ГОСТ Р 57394-2017

Заглавие на русском языке

Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность

Заглавие на английском языке

Integrated circuits and semiconductor devices. Methods of accelerated tests for non-failure operation

Дата введения в действие

01.01.2018

ОКС

31.080.01;31.200

Аннотация (область применения)

Настоящий стандарт устанавливает методы ускоренных испытаний на безотказность полупроводниковых интегральных микросхем и полупроводниковых приборов (далее - изделий), предусматривающие форсирование режимов эксплуатации

Ключевые слова

интегральные микросхемы; полупроводниковые приборы; методы ускоренных испытаний на безотказность; кратковременные испытания; длительные испытания

Термины и определения

Раздел стандарта

Вид стандарта

4 - Стандарты на методы контроля

Нормативные ссылки на: ГОСТ

Управление Ростехрегулирования

1 - Управление технического регулирования и стандартизации

Количество страниц (оригинала)

46

Организация - Разработчик

Акционерное общество «Российский научно-исследовательский институт «Электронстандарт» (АО «РНИИ «Электронстандарт»); Федеральное государственное унитарное предприятие «Мытищинский научно-исследовательский институт радиоизмерительных приборов» (ФГУП «МНИИРИП»); Акционерное общество «Центральное конструкторское бюро «ЦКБ «Дейтон» (АО «ЦКБ «Дейтон»); Акционерное общество «Росэлектроника» (АО «Росэлектроника»)

Статус

Действует

Код цены

4