ГОСТ 26239.5-84
ГОСТ 26239.5-84
СохранитьОбозначение
ГОСТ 26239.5-84
Заглавие на русском языке
Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей
Заглавие на английском языке
Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination
Дата введения в действие
01.01.1986
ОКС
29.045
Код КГС
В59
Код ОКСТУ
1709
Аннотация (область применения)
Настоящий стандарт устанавливает нейтронно-активационный метод определения примесей в нелегированном полупроводниковом кремнии и кварце.
Метод не распространяется для анализа кремния марок КЭС-0,01 и КЭМ-0,01
Ключевые слова
кремний полупроводниковый; кварц; определение примесей; метод нейтронно-активационный; аппаратура; материалы; реактивы
Вид стандарта
4 - Стандарты на методы контроля
Вид требований
Документ имеет отметку *
Нормативные ссылки на: ГОСТ
ГОСТ 4951-79
ГОСТ 11125-78
ГОСТ 18344-78
Нормативные ссылки на: Прочие
ОСП 72/87
Документ внесен организацией СНГ
Минцветмет СССР
Управление Ростехрегулирования
320 - Управление стандартизации и сертификации сырья и материалов
Разработчик МНД
Российская Федерация
Межгосударственный ТК
104 - Полупроводниковая и редкометаллическая продукция
Количество страниц (оригинала)
18
Организация - Разработчик
Минцветмет СССР
Статус
Действует
Код цены
3
Ограничение срока действия снято
Протокол № 7-95 МГС от 01.03.95 (ИУС № 11-95)